• 供應150㎜平面干涉儀上海乾曜光學科技
    • 產品價格:¥ 100000 元/臺
    • 供 貨 量:10臺
    • 所 在 地:中國 上海 上海
    • 聯 系 人:楊毓 先生   添加為商業(yè)伙伴
    • 有 效 期:2018年06月29日-2018年12月26日
    詳細信息

    G150M型平面干涉儀:專為計量級測試的需求設計,適用于計量機構檢定和校準光學平晶。其集高性能、長壽命氦氖激光器,1-6.7倍圖像放大功能,高精度的成像系統(tǒng)和圖像采集系統(tǒng),精密平面標準鏡等一系列高精技術,通過優(yōu)化光學系統(tǒng)和機械系統(tǒng)結構,實現高精密平面光學元件的測量。選配靜態(tài)干涉條紋分析軟件,實現數字化測量。

    G150SG150M:的簡化版本,適合光學車間的現場檢驗。
    主要用途:平面類光學元件(包括玻璃、金屬、陶瓷等)表面面形、光學平行度和材料均勻性的測試;準直系統(tǒng)波前質量的測試。
    儀器規(guī)格參數表
    產品型號 G150M G150S
    有效通光口徑 152.4mm6英寸)
    測量方式 菲索干涉原理
    光源 氦氖激光(632.8nm 半導體激光器(635nm
    連續(xù)變焦倍數 1-6.7 固定倍率
    光路切換 對準(十字叉絲)與測試(干涉場)模式電控切換
    顯示方式 計算機或獨立監(jiān)視器實時顯示 監(jiān)視器實時顯示
    平面透過標準鏡 PV:優(yōu)于λ/20,可定制更高精度標準鏡
    平面反射標準鏡 標配 選配
    衰減過濾片 標配 選配
    儀器尺寸(長X寬X高) 500X500X1070mm
    儀器重量 80KG
    電源 AC100-240V 50/60Hz
    (附注:更大口徑平面干涉儀可依據客戶需求定制)

    儀器特點

    精度高:標準鏡精度高,且材料經過精密退火處理,穩(wěn)定可靠;


    調整方便:可通過切換開關選擇對準與干涉場兩種顯示模式,方便調整;


    條紋真實:優(yōu)良的光學設計,精密的系統(tǒng)裝保證得到清晰、準確、真實的干涉條紋;


    性能優(yōu)良:儀器具備良好的隔振性能,適合光學加工現場使用;


    配件豐富:標配密封罩,可將測試腔與外界氣流隔離,降低測試過程中氣流擾動,提高判斷的準確性。配合衰減過濾片,可以測量鍍高反膜元件。

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    150㎜平面干涉儀上海乾曜光學科技
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