G150M型平面干涉儀:專為計量級測試的需求設計,適用于計量機構檢定和校準光學平晶。其集高性能、長壽命氦氖激光器,1-6.7倍圖像放大功能,高精度的成像系統(tǒng)和圖像采集系統(tǒng),精密平面標準鏡等一系列高精技術,通過優(yōu)化光學系統(tǒng)和機械系統(tǒng)結構,實現高精密平面光學元件的測量。選配靜態(tài)干涉條紋分析軟件,實現數字化測量。
G150S為G150M:的簡化版本,適合光學車間的現場檢驗。
主要用途:平面類光學元件(包括玻璃、金屬、陶瓷等)表面面形、光學平行度和材料均勻性的測試;準直系統(tǒng)波前質量的測試。
儀器規(guī)格參數表
儀器特點
產品型號 | G150M | G150S |
有效通光口徑 | 152.4mm(6英寸) | |
測量方式 | 菲索干涉原理 | |
光源 | 氦氖激光(632.8nm) | 半導體激光器(635nm) |
連續(xù)變焦倍數 | 1-6.7倍 | 固定倍率 |
光路切換 | 對準(十字叉絲)與測試(干涉場)模式電控切換 | |
顯示方式 | 計算機或獨立監(jiān)視器實時顯示 | 監(jiān)視器實時顯示 |
平面透過標準鏡 | PV:優(yōu)于λ/20,可定制更高精度標準鏡 | |
平面反射標準鏡 | 標配 | 選配 |
衰減過濾片 | 標配 | 選配 |
儀器尺寸(長X寬X高) | 500X500X1070mm | |
儀器重量 | 80KG | |
電源 | AC100-240V 50/60Hz | |
(附注:更大口徑平面干涉儀可依據客戶需求定制) |
儀器特點
◇ 精度高:標準鏡精度高,且材料經過精密退火處理,穩(wěn)定可靠;
◇ 調整方便:可通過切換開關選擇對準與干涉場兩種顯示模式,方便調整;
◇ 條紋真實:優(yōu)良的光學設計,精密的系統(tǒng)裝保證得到清晰、準確、真實的干涉條紋;
◇ 性能優(yōu)良:儀器具備良好的隔振性能,適合光學加工現場使用;
◇ 配件豐富:標配密封罩,可將測試腔與外界氣流隔離,降低測試過程中氣流擾動,提高判斷的準確性。配合衰減過濾片,可以測量鍍高反膜元件。 |
注:聯系我時,請說是在“傲立機床網”上看到的,謝謝!