G200M激光平面干涉儀

詳細(xì)介紹G200M型平面干涉儀:為中國(guó)首款標(biāo)準(zhǔn)鏡有效口徑達(dá)到200mm的平面干涉儀，改善提高了大口徑光學(xué)系統(tǒng)和光學(xué)元件測(cè)試精度，彌補(bǔ)了國(guó)內(nèi)使用有效口徑150mm的干涉儀測(cè)試大尺寸光學(xué)系統(tǒng)和光學(xué)元件，不能全口徑測(cè)試的不足。主要用途：平面類(lèi)光學(xué)元件（包括玻璃、金屬、陶瓷等）表面面形、光學(xué)平行度和材料均勻性的測(cè)試；準(zhǔn)直系統(tǒng)波前質(zhì)量的測(cè)試。儀器規(guī)格參數(shù)表產(chǎn)品型號(hào)G200M類(lèi)型菲索干涉原理測(cè)試口徑◇200mm標(biāo)準(zhǔn)鏡材料熔石英（康寧79。 詳細(xì)介紹>>